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凝聚技術(shù)力量 共建測試生態(tài) ——集成電路測試技術(shù)交流日成功舉辦
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10月18日下午,凝聚技術(shù)力量,共建測試生態(tài) ——集成電路測試技術(shù)交流會在上海成功舉辦。來自全國各地知名專家學者、技術(shù)大咖及企業(yè)代表齊聚一堂,共同探討封裝測試技術(shù)的發(fā)展方向,共話產(chǎn)業(yè)未來,共促產(chǎn)業(yè)發(fā)展。
本次活動在中國集成電路檢測與測試創(chuàng)新聯(lián)盟(簡稱大聯(lián)盟)指導下,由上海北京大學微電子研究院、上海張江管理中心發(fā)展有限公司、杭州加速科技有限公司、上海盛英科技發(fā)展有限公司聯(lián)合主辦。
中國集成電路檢測與測試創(chuàng)新聯(lián)盟副理事長倪昊,上海交通大學微電子學院執(zhí)行院長王國興,上海交通大學微納電子學系助理教授、博士生導師、中國科協(xié)青托祁亮,上海華嶺集成電路技術(shù)股份有限公司技術(shù)總監(jiān)余琨,日月新集團中國區(qū)業(yè)務總監(jiān)包鋒,蘇試宜特(上海)檢測技術(shù)股份有限公司可靠度工程部部長葛金發(fā),中穎電子股份有限公司技術(shù)負責人凌楠,上海北大微電子研究院院長助理、副研究員蔣樂樂,張江浩成總經(jīng)理助理袁銓,杭州加速科技有限公司董事長鄔剛,杭州加速科技有限公司副總經(jīng)理陳永等嘉賓出席會議。
在開場致辭中,中國集成電路檢測與測試創(chuàng)新聯(lián)盟副理事長倪昊對各位參會領(lǐng)導、行業(yè)專家、企業(yè)代表的到來表示熱烈歡迎。他在致辭中強調(diào)了集成電路封裝測試技術(shù)的發(fā)展對于推動我國集成電路產(chǎn)業(yè)的升級具有重要意義,鼓勵與會嘉賓積極分享經(jīng)驗和見解,共同推動行業(yè)的發(fā)展。
上海交通大學微納電子學系助理教授、博士生導師、中國科協(xié)青托祁亮分享了題為《ADC低功耗設計及測試》的主題演講。他詳細介紹了ADC低功耗設計的原理和測試方法,以及如何通過技術(shù)創(chuàng)新降低功耗,提高集成電路的性能。
上海華嶺集成電路技術(shù)股份有限公司技術(shù)總監(jiān)余琨發(fā)表了主題演講《Chiplet技術(shù)發(fā)展趨勢及測試挑戰(zhàn)》。她從Chiplet技術(shù)的發(fā)展趨勢出發(fā),深入探討了在Chiplet技術(shù)應用中面臨的測試挑戰(zhàn),并提出了相應的解決方案。
杭州加速科技有限公司副總經(jīng)理陳永分享了題為《ATE測試速度提升的技術(shù)創(chuàng)新》的演講。從測試技術(shù)創(chuàng)新角度切入,分享了加速科技的高性價比的測試設備和高性能測試方案,為行業(yè)實現(xiàn)測試降本增效提供了新的思考路徑。
日月新集團業(yè)務副理陳鑫豪以《車規(guī)芯片封測的零缺陷管理》為主題進行分享。他表示車載電子非常強調(diào)芯片的穩(wěn)定性和長期可靠性,車規(guī)芯片封測面臨的是可靠性零缺陷的挑戰(zhàn),只有不斷提升產(chǎn)品質(zhì)量與可靠度才能建立消費者對車廠的信心,隨后分享了車規(guī)芯片封測過程中的零缺陷管理方法和實踐經(jīng)驗。
蘇試宜特(上海)檢測技術(shù)股份有限公司可靠度工程部部長葛金發(fā)圍繞《元器件檢測驗證與解決方案》進行主題分享,結(jié)合元器件檢測驗證一些實際案例,提出相應解決方案。
中穎電子股份有限公司技術(shù)負責人凌楠發(fā)表了主題演講《測試機臺和測試流程的選擇原則》。通過分析決定量產(chǎn)測試ATE和測試流程的因素及其權(quán)重,根據(jù)不同的應用場景和客戶需求,給出量產(chǎn)平臺和流程選擇策略建議。
會議期間,與會嘉賓還就集成電路測試技術(shù)的最新發(fā)展、行業(yè)趨勢和未來挑戰(zhàn)等議題展開了深入討論,分享了各自的觀點和經(jīng)驗。
本次研討會圓滿舉行,加速科技和專家學者,技術(shù)大咖深入交流,共同探索測試技術(shù)未來發(fā)展方向。一直以來,加速科技致力于半導體自主測試技術(shù)的研究與開發(fā),從客戶的真實需求出發(fā),持續(xù)為半導體企業(yè)的芯片測試帶來專業(yè)化解決方案,為客戶提高效率降低成本,全面提升企業(yè)競爭力。未來,加速也將與行業(yè)伙伴攜手并進,加強合作交流,共探共研,助力國產(chǎn)集成電路產(chǎn)業(yè)鏈健康發(fā)展。